一級(jí)造價(jià)工程師

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2011造價(jià)工程師考試輔導(dǎo)-技術(shù)與計(jì)量（安裝）考點(diǎn)匯總

焊接質(zhì)量檢驗(yàn)

焊接質(zhì)量檢驗(yàn) 焊接質(zhì)量檢驗(yàn)是確保安裝工程施工質(zhì)量的重要措施。

(一)焊接質(zhì)量檢驗(yàn)的內(nèi)容和方法

(二)材料的檢驗(yàn)

成分、性能及組織的檢驗(yàn)

1)顯微組織檢驗(yàn)。顯微組織檢驗(yàn)是用高倍顯微鏡來觀察分析微觀組織狀態(tài)的金相檢驗(yàn)。

在進(jìn)行顯微組織檢查前，先要制成經(jīng)過磨光、酸蝕的試樣，在50～3000倍的金相顯微鏡下觀察。顯微組織檢驗(yàn)?zāi)艽_定材料晶粒度大小、帶狀組織、各種組織組成物形態(tài)、非金屬夾雜及脫碳層深度等。

2)宏觀組織檢驗(yàn)。用肉眼或用不大于10倍的放大鏡檢驗(yàn)金屬宏觀組織和缺陷叫宏觀檢驗(yàn)，常用的方法有斷口檢驗(yàn)、酸浸檢驗(yàn)、塔形車削發(fā)紋檢驗(yàn)及硫印檢驗(yàn)等。

① 斷口檢驗(yàn)。是根據(jù)材料的斷口來檢查材料在冶煉或加工過程中所引起的缺陷，如氣泡、縮孔殘余、夾渣、分層、裂紋、粗大晶粒及白點(diǎn)等，從而判斷材料的質(zhì)量是否合格。

② 酸蝕檢驗(yàn)。也稱低倍檢驗(yàn)，是將制備好的材料試樣用酸液腐蝕(鹽酸溶液)，以顯示其宏觀組織的方法。這時(shí)看到的組織稱為低倍組織。低倍檢驗(yàn)一般用來檢查組織偏析、疏松、氣泡、裂紋、白點(diǎn)、夾雜和縮孔殘余等缺陷。

③ 塔形車削發(fā)紋檢驗(yàn)。目的是為了檢查鋼材內(nèi)部的發(fā)紋缺陷。該方法是把鋼材按一定尺寸車削成具有三個(gè)階梯的圓柱形試樣，而后用酸蝕或磁粉法檢驗(yàn)發(fā)紋，根據(jù)發(fā)紋的條數(shù)等來評(píng)定，這種檢驗(yàn)一般用于特殊重要用途的鋼材。

④ 硫印試驗(yàn)。目的是直接檢驗(yàn)鋼中的硫，間接檢驗(yàn)鋼中的偏析或分布情況。這種方法是用經(jīng)硫酸液浸透的溴化銀像紙與擦拭干凈的試樣表面緊貼1～2 min，經(jīng)定影后觀察。

(三)焊接施工中的檢驗(yàn)

(四)焊接后質(zhì)量檢驗(yàn)

在工程中對(duì)于焊接質(zhì)量的檢驗(yàn),一般多用無損探傷檢驗(yàn)來提高檢驗(yàn)的可靠性。

1. 射線檢測(RT)

x射線或γ射線就本質(zhì)而言與可見光相同，都屬于電磁波，只是波長不同，故性質(zhì)也有差異。γ射線的波長較x射線短，故其射線更硬，穿透力也越強(qiáng)。

1) 從x射線發(fā)射管發(fā)出具有強(qiáng)大穿透能力的x射線，照射到需探傷的工件上，工件的背面放有裝在暗匣中的x光軟片。如金屬中有氣孔、裂紋、未焊透、夾渣等缺陷，照相底片經(jīng)沖洗后可以看到相應(yīng)部位是一些黑色的條紋或痹點(diǎn);而由于焊縫本身比被焊金屬厚的緣故，故焊縫處在膠片上顯示出白色的條縫，焊縫處缺陷在膠片上形成的黑色條紋或痹點(diǎn)則十分明顯，易于檢測出。通常x射線可檢查出的缺陷尺寸不小于透視工件厚度的1.5%-2.0%(即靈敏度)。

x射線探傷的優(yōu)點(diǎn)是顯示缺陷的靈敏度高，特別是當(dāng)焊縫厚度小于30mm時(shí)，較γ射線靈敏度高，其次是照射時(shí)間短、速度快。缺點(diǎn)是設(shè)備復(fù)雜、笨重，成本高，操作麻煩，穿透力較γ射線小。

2) γ射線是由放射性同位素和放射性元素產(chǎn)生的。施工探傷都采用放射性同位素作為射線源。常用的同位素有鈷60和銫137，探傷厚度分別為200mm和120mm。γ射線的特點(diǎn)是設(shè)備輕便靈活，特別是施工現(xiàn)場更為方便，而且投資少，成本低。但其 光時(shí)間長，靈敏度較低，用超微粒軟片鉛箱增感進(jìn)行透照時(shí)，靈敏度才達(dá)到2%。另外γ射線對(duì)人體有危害作用，石油化工行業(yè)現(xiàn)場施工時(shí)常用。

2. 超聲檢測(UT)

超聲法的優(yōu)點(diǎn)是可用于金屬、非金屬和復(fù)合材料制件的無損評(píng)價(jià);超聲波在金屬中可以傳播很遠(yuǎn)的距離(能達(dá)10m)故可用其探測大厚度工件;對(duì)確定內(nèi)部缺陷的大小、置位、取向、埋深和性質(zhì)等參量較之其他無損方法有綜合優(yōu)勢;特別是對(duì)檢測裂縫等平面型缺陷靈敏度很高;僅需從一側(cè)接近試件;設(shè)備輕便對(duì)人體及環(huán)境無害，可作現(xiàn)場檢測;所用參數(shù)設(shè)置及有關(guān)波形均可存儲(chǔ)供以后調(diào)用。主要局限性是對(duì)材料及制件缺陷作精確的定性，定量表征仍須作深入研究;對(duì)試件形狀的復(fù)雜性有一定限制。

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（責(zé)任編輯：中大編輯）

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